| | |
|---|
| Údaje o výsledku |
| Identifikační kód | RIV/00216305:26210/06:PU63612 |
| Název v původním jazyce | Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation |
| Název česky | Vytváření nanostruktur na Si(100) a GaAs(1 0 0) pomocí lokální anodické oxidace |
| Druh | J - Článek v odborném periodiku |
| Jazyk | eng - angličtina |
| Obor | BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Rok uplatnění | 2006 |
| Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů |
| Počet výskytů výsledku | 3 |
| Tvůrci výsledku |
| Počet tvůrců celkem | 6 |
| Počet domácích tvůrců | 6 |
| Tvůrce | Šikola Tomáš (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce) |
| Tvůrce | Červenka Jiří (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce; G - garant výsledku) |
| Tvůrce | Kalousek Radek (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce) |
| Tvůrce | Škoda David (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce) |
| Tvůrce | Tomanec Ondřej (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce) |
| Tvůrce | Bartošík Miroslav (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce) |
| Údaje blíže specifikující výsledek |
| Popis v původním jazyce | Atomic force microscopes have become useful tools not only for observing surface morphology and nanostructure topography but also for fabrication of various nanostructures itself. In this paper, the application of AFM for fabrication of nanostructures by local anodic oxidation (LAO) of Si(1 0 0) and GaAs(1 0 0) surfaces is presented. A special attention is paid to finding relations between the size of oxide nanolines (height and half-width) and operational parameters as tip-sample voltage and tip writing speed. It was demonstrated that the formation of silicon oxide lines obeys the Cabrera-Mott theory, i.e. the height of the lines grow, linearly with tip-sample voltage and is inversely proportional to logarithm of tip writing speed. As for GaAs substrates, the oxide line height grows linearly with tip-sample voltage as well but LAO exhibits a certain deviation from this theory. It is shown that the selective chemical etching of Si or GaAs ultrathin films processed by LAO makes it possible to use these |
| Popis česky | Vytváření nanostruktur na Si(100) a GaAs(1 0 0) pomocí lokální anodické oxidace |
| Klíčová slova | Nanotechnology, Nanostructure fabrication, Local anodic oxidation, AFM |
| Název periodka | Applied Surface Science |
| Rozsah stran | 2373-2378 |
| ISSN | 0169-4332 |
| Svazek periodika | 253 |
| Číslo periodika v rámci uvedeného svazku | 5 |
| Stát vydavatele periodika | NL - Nizozemské království |
| Počet stran výsledku | 6 |
| Údaje o tomto záznamu o výsledku |
| Předkladatel | Vysoké učení technické v Brně / Fakulta strojního inženýrství |
| Dodavatel | MSM - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy (MŠMT) |
| Rok sběru | 2007 |
| Systémové označení dodávky dat | RIV07-MSM-26210___/03:3 |
| Datum dodání | 27.8.2009 |
| Specifikace | RIV/00216305:26210/06:PU63612!RIV07-MSM-26210___ |
| Kontrolní kód | [18FF1D8B6D51] |
| Další výskyty tohoto výsledku od stejného předkladatele |
| Dodáno AV ČR v roce 2007 | Záznam s identifikačním kódem RIV/00216305:26210/06:PU63612 v dodávce dat RIV07-AV0-26210___/01:1 |
| Dodáno GA ČR v roce 2007 | Záznam s identifikačním kódem RIV/00216305:26210/06:PU63612 v dodávce dat RIV07-GA0-26210___/02:2 |
| Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl |
| Projekt | GP202/04/P125 - Měření profilu provrchů pomocí bezkontaktní mikroskopie atomárních sil (2004-2006, GA0/GP) |
| Projekt | IAA1010413 - Nanověda a nanotechnologie se sondovými mikroskopy: od jevů na atomární úrovni k materiálovým vlastnostem (2004-2008, AV0/IA) |
| Projekt | LC06040 - Struktury pro nanofotoniku a nanoelektroniku (2006-2011, MSM/LC) |
| Výzkumný záměr | MSM0021630508 - Anorganické nanomateriály a nanostruktury: vytváření, analýza, vlastnosti (2005-2011, MSM) |