• česky
  • english

RIV/00216224:14310/05:00013218 - Spontaneous lateral modulation in short-period superlattices investigated by grazing-incidence X-ray diffraction (2005)

Údaje o výsledku
Identifikační kódRIV/00216224:14310/05:00013218
Název v původním jazyceSpontaneous lateral modulation in short-period superlattices investigated by grazing-incidence X-ray diffraction
DruhJ - Článek v odborném periodiku
Jazykeng - angličtina
OborBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Rok uplatnění2005
Kód důvěrnosti údajůS - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
Počet výskytů výsledku8
Tvůrci výsledku
Počet tvůrců celkem6
Počet domácích tvůrců4
TvůrceCaha Ondřej (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce; G - garant výsledku)
TvůrceMikulík Petr (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce)
TvůrceNovák Jiří (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce)
TvůrceHolý Václav (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce)
TvůrceMoss Simon C. (státní příslušnost: US - Spojené státy americké)
TvůrceNorman Andrew (státní příslušnost: US - Spojené státy americké)
Údaje blíže specifikující výsledek
Popis v původním jazyceThe process of spontaneous lateral composition modulation in short-period InAs-AlAs superlattices has been investigated by grazing-incidence x-ray diffraction. We have developed a theoretical description of x-ray scattering from laterally modulated structures that makes it possible to determine the lateral composition modulation directly without assuming any structure model. From experimental intensity distributions in reciprocal space we have determined the amplitudes of the modulation and its degree of periodicity and their dependence on the number of superlattice periods. From the data it follows that the modulation process cannot be explained by bunching of monolayer steps and most likely, it is caused by stress-driven morphological instabilities of the growing surface.
Klíčová slovalateral modulation; superlattices; x-ray diffraction
Kód UT ISI000230890200112
Název periodkaPhysical Review B
ISSN1098-0121
Svazek periodika72
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku3
Stát vydavatele periodikaUS - Spojené státy americké
Počet stran výsledku10
Údaje o tomto záznamu o výsledku
PředkladatelMasarykova univerzita / Přírodovědecká fakulta
DodavatelGA0 - Grantová agentura České republiky (GA ČR)
Rok sběru2010
Systémové označení dodávky datRIV10-GA0-14310___/01:1
Datum dodání14.5.2010
SpecifikaceRIV/00216224:14310/05:00013218!RIV10-GA0-14310___
Kontrolní kód[3F8A14350FE2]
Další výskyty tohoto výsledku od stejného předkladatele
Dodáno GA ČR v roce 2006Záznam s identifikačním kódem RIV/00216224:14310/05:00013218 v dodávce dat RIV06-GA0-14310___/02:2
Dodáno GA ČR v roce 2008Záznam s identifikačním kódem RIV/00216224:14310/05:00013218 v dodávce dat RIV08-GA0-14310___/01:1
Dodáno MŠMT v roce 2006Záznam s identifikačním kódem RIV/00216224:14310/05:00013218 v dodávce dat RIV06-MSM-14310___/01:1
Dodáno MŠMT v roce 2008Záznam s identifikačním kódem RIV/00216224:14310/05:00013218 v dodávce dat RIV08-MSM-14310___/02:2
Dodáno MŠMT v roce 2010Záznam s identifikačním kódem RIV/00216224:14310/05:00013218 v dodávce dat RIV10-MSM-14310___/02:2
Další výskyty tohoto výsledku od jiných předkladatelů
Další předkladatelUniverzita Karlova v Praze / Matematicko-fyzikální fakulta
Dodáno GA ČR v roce 2006Záznam s identifikačním kódem RIV/00216208:11320/05:00001308 v dodávce dat RIV06-GA0-11320___/01:1
Dodáno MŠMT v roce 2006Záznam s identifikačním kódem RIV/00216208:11320/05:00001308 v dodávce dat RIV06-MSM-11320___/02:2
Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl
ProjektGA202/03/0148 - Anomální rozptyl rtg záření na polovodičových nanostrukturách (2003-2005, GA0/GA)
Výzkumný záměrMSM0021620834 - Fyzika kondenzované fáze: nové materiály a technologie (2005-2011, MSM)
Výzkumný záměrMSM0021622410 - Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur (2005-2011, MSM)