RIV/00216208:11320/08:00206839 - Magnetron Deposited TiO2 Thin Films - Crystallization and Temperature Dependence of Microstructure and Phase Composition (2008)
| Údaje o výsledku | |
| Identifikační kód | RIV/00216208:11320/08:00206839 |
| Název v původním jazyce | Magnetron Deposited TiO2 Thin Films - Crystallization and Temperature Dependence of Microstructure and Phase Composition |
| Druh | J - Článek v odborném periodiku |
| Jazyk | eng - angličtina |
| Obor | BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Rok uplatnění | 2008 |
| Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů |
| Počet výskytů výsledku | 2 |
| Tvůrci výsledku | |
| Počet tvůrců celkem | 5 |
| Počet domácích tvůrců | 3 |
| Tvůrce | Kužel Radomír (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce; G - garant výsledku) |
| Tvůrce | Nichtová Lea (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce) |
| Tvůrce | Matěj Zdeněk (státní příslušnost: CZ - Česká republika; A - domácí tvůrce) |
| Tvůrce | Sicha J. (státní příslušnost: CZ - Česká republika) |
| Tvůrce | Musil J. (státní příslušnost: CZ - Česká republika) |
| Údaje blíže specifikující výsledek | |
| Popis v původním jazyce | Temperature dependence of microstructure and phase composition of two sets of nanocrystalline TiO2 thin Films magnetron deposited oil glass and silicon substrates have been Studied by X-ray scattering. X-ray powder diffraction patterns were measured in parallel beam optics and evaluated by the total pattern fitting. After annealing, the amorphous films are crystallized, the nanocrystalline films consisting of anatase and rutile are partially crystallized while pure nanocrystalline anatase films remain nearly unchanged. With increasing temperature above 400 degrees C significant increase of crystallite size and transformation of anatase into rutile after 700 degrees C can be observed. |
| Klíčová slova | Magnetron; Deposited; Films; Crystallization; Temperature; Dependence; Microstructure; Phase; Composition |
| Kód UT ISI | 000264441800032 |
| Název periodka | Zeitschrift für Kristallographie |
| ISSN | 0044-2968 |
| Svazek periodika | 27 |
| Číslo periodika v rámci uvedeného svazku | 27 |
| Stát vydavatele periodika | DE - Spolková republika Německo |
| Počet stran výsledku | 8 |
| Údaje o tomto záznamu o výsledku | |
| Předkladatel | Univerzita Karlova v Praze / Matematicko-fyzikální fakulta |
| Dodavatel | GA0 - Grantová agentura České republiky (GA ČR) |
| Rok sběru | 2010 |
| Systémové označení dodávky dat | RIV10-GA0-11320___/01:1 |
| Datum dodání | 20.5.2010 |
| Specifikace | RIV/00216208:11320/08:00206839!RIV10-GA0-11320___ |
| Kontrolní kód | [F0F28A2E0A5A] |
| Další výskyty tohoto výsledku od stejného předkladatele | |
| Dodáno MŠMT v roce 2010 | Záznam s identifikačním kódem RIV/00216208:11320/08:00206839 v dodávce dat RIV10-MSM-11320___/01:1 |
| Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl | |
| Projekt | GA106/06/0327 - Krystalizace amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev (2006-2008, GA0/GA) |
| Výzkumný záměr | MSM0021620834 - Fyzika kondenzované fáze: nové materiály a technologie (2005-2011, MSM) |
Tuto aplikaci pro Radu pro výzkum, vývoj a inovace provozuje Výpočetní a informační centrum Českého vysokého učení technického v Praze. Vyvíjí InfoScience Praha s.r.o.. Verze aplikace 1.6.15. Datové schéma ISVAV_WEB5_00305.
Podpora uživatelů na e-mailové adrese 
nebo telefonním čísle 224 234 797 (v pracovních dnech 8-16 hod.).
nebo telefonním čísle 224 234 797 (v pracovních dnech 8-16 hod.).