| | |
|---|
| Údaje o projektu |
| Identifikační kód | GA106/06/0327 |
| Důvěrnost údajů | S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů |
| Název v původním jazyce | Krystalizace amorfních a nanokrystalických tenkých vrstev |
| Poskytovatel | GA0 - Grantová agentura České republiky (GA ČR) |
| Program | GA - Standardní projekty (1993-…) |
| Kategorie VaV | ZV - Základní výzkum |
| Hlavní obor | BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Zahájení řešení | 1.1.2006 |
| Ukončení řešení | 31.12.2008 |
| Datum posledního uvolnění účelové podpory | 25.4.2008 |
| Číslo smlouvy | 106/06/0327 |
| Poslední stav řešení | U - Ukončený projekt, tj. jednoletý nebo víceletý projekt, který skončil v předcházejícím roce, v příslušném roce sběru dat jsou dodány údaje vztahující se k jeho ukončení |
| Finance projektu | |
| Období | 2006 | 2007 | 2008 | celkem |
|---|
| Výše podpory ze státního rozpočtu | 1 001 tis. Kč | 945 tis. Kč | 938 tis. Kč | 2 884 tis. Kč |
| Celkové uznané náklady | 1 001 tis. Kč | 945 tis. Kč | 938 tis. Kč | 2 884 tis. Kč |
| Typ | skutečně čerpané | skutečně čerpané | skutečně čerpané |
|
| Druh soutěže | VS - Veřejná soutěž ve výzkumu a vývoji |
| Veřejná soutěž ve výzkumu, vývoji a inovacích | SGA02006GA-ST - Veřejná soutěž (GA0/GA) |
| Cíle řešení v původním jazyce | Vlastnosti tenkých vrstev podstatně závisí na jejich reálné struktuře případně krystalinitě. Vlastnosti tenkých vrstev podstatně závisí na jejich reálné struktuře případně krystalinitě. Krystalizace amorfním a nanokrystalických vrstev bude sledována pro dva případy - vrstvy TiO2, které v poslední době nalezají aplikace v různých odvětvích průmyslu, zejména díky fotokatalytické aktivitě a samočístícím vlastnostem a pro tvrdé amorfní až nanokrystalické vrstvy zejména v systému Zr-Si-N. V prvním případě jecílem snížit teplotu krystalizace, ve druhém naopak zvýšit. Vrstvy TiO2 budou navíc dopovány vhodnými prvky za účelem posunu zakázaného pásu do viditelné oblasti. Reálná struktura vrstev a její vývoj s teplotou budou studovány pomocí komplexní charakterizace rtg difrakcí a reflexí, tzn. fázové složení, mikrodeformace, zbytková napětí, tloušťka vrstev, drsnost povrchu, analýza velikostí a tvaru krystalitů a jejich přednostní orientace. A to jak pro žíhané vrstvy, tak i in-situ měřeními. |
| Klíčová slova v anglickém jazyce | nanocrystalline thin films; crystallization; titanium oxides; X-ray diffraction |
| Hodnocení výsledků | V - Vynikající výsledky (s mezinárodním významem apod.). Zároveň byly splněny cíle a předpokládané výsledky uvedené ve smlouvě / rozhodnutí o poskytnutí podpory. |
| Zhodnocení výsledků řešení česky | Hlavní pozornost byla soustředěna na krystalizaci vrstev TiO2 s cílem získat nanokrystalické vrstvy vykazující po UV ozáření hydrofilicitu a antibakteriální vlastnosti. Pomocí různého žíhání amorfních vrstev a in-situ rtg difrakčních meření byla stanoven |
| Rok dodání údajů do CEP | 2009 |
| Systémové označení dodávky dat | CEP09-GA0-GA-U/02:2 |
| Datum dodání záznamu | 22.10.2009 |
| Účastníci projektu |
| Počet příjemců | 1 |
| Počet dalších účastníků projektu | 1 |
| Příjemce / Organizační jednotka garantující řešení | Univerzita Karlova v Praze / Matematicko-fyzikální fakulta |
| Řešitel | Doc. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (státní příslušnost: CZ - Česká republika; tel.: 221 911 394; fax: 224 911 061) |
| Další účastník projektu / Organizační jednotka garantující řešení | Západočeská univerzita v Plzni / Fakulta aplikovaných věd |
| Řešitel | Prof. Ing. Jindřich Musil, DrSc. (státní příslušnost: CZ - Česká republika) |
| Finance účastníků projektu |
| Poznámka: Finance účastníků projektu jsou sledovány od roku 2007 |
| Výše podpory ze státního rozpočtu | |
| Účastník | 2007 | 2008 |
|---|
| Univerzita Karlova v Praze / Matematicko-fyzikální fakulta | 502 tis. Kč | 490 tis. Kč |
| Západočeská univerzita v Plzni / Fakulta aplikovaných věd | 443 tis. Kč | 448 tis. Kč |
|
| Celkové uznané náklady | |
| Účastník | 2007 | 2008 |
|---|
| Univerzita Karlova v Praze / Matematicko-fyzikální fakulta | 502 tis. Kč | 490 tis. Kč |
| Západočeská univerzita v Plzni / Fakulta aplikovaných věd | 443 tis. Kč | 448 tis. Kč |
|
| Výsledky projektu v RIV |
| Počet výsledků v RIV | 16 |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/09:00501499 - Protective Zr-containing SiO2 coatings resistant to thermal cycling in air up to 1400 °C (2009) |
| Výsledek druhu J | RIV/00216208:11320/09:00206793 - Time and thickness dependence of crystallization of amorphous magnetron deposited TiO2 thin films (2009) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/09:00501503 - Two-Functional Direct Current Sputtered Silver-Containing Titanium Dioxide Thin Films (2009) |
| Výsledek druhu D | RIV/49777513:23520/08:00500786 - Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness (2008) |
| Výsledek druhu J | RIV/00216208:11320/08:00206839 - Magnetron Deposited TiO2 Thin Films - Crystallization and Temperature Dependence of Microstructure and Phase Composition (2008) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/08:00500293 - Nanostructure of photocatalytic TiO2 films sputtered at temperatures below 200°C (2008) |
| Výsledek druhu D | RIV/49777513:23520/08:00500791 - XRD in-situ study of crystallization of magnetron-deposited TiO2 thin films (2008) |
| Výsledek druhu D | RIV/49777513:23520/07:00000030 - Decomposition of organic dyes with sputtered TiO2 photocatalytic films (2007) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/07:00000033 - Growth of magnetron sputtered TiO2 thin films studied by X-ray scattering (2007) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/07:00502196 - High-rate low-temperature dc pulsed magnetron sputtering of photocatalytic TiO2 films: the effect of repetition frequency (2007) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/07:00000003 - Magnetron deposited TiO2 thin films crystallization and temperature dependence of microstructure and phase composition (2007) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/07:00000022 - Role of energy in low-temperature high-rate formation of hydrophylic TiO2 thin films using pulsed magnetron sputtering (2007) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/07:00000055 - Structural studies of crystallization and growth of magnetron deposited TiO2 thin films by X-ray diffraction and reflectivity (2007) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/07:00000024 - Study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films by X-ray scattering (2007) |
| Výsledek druhu J | RIV/49777513:23520/06:00000017 - Growth of nanocrystalline magnetron sputtered TiO2 thin films studied by X-ray scattering (2006) |
| Výsledek druhu J | RIV/00216208:11320/06:00003011 - X-ray scattering study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films (2006) |